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          蘇州研究級共聚焦顯微系統參數規格

          簡要描述:研究級共聚焦顯微系統

          usurf expert是一套*為測試以及實驗設備的開發而優化的系統,滿足非接觸性測量行業內Z高的要求。

          • 產品型號:
          • 廠商性質:其他
          • 更新時間:2017-12-30
          • 訪  問  量:1276

          詳細介紹

          研究級共聚焦顯微系統

          usurf expert是一套*為測試以及實驗設備的開發而優化的系統,滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。

          測量系統配備有高精度的傳感器,與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項,usurf expert提供zui高級別的操作舒適感,這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。 

          客戶可自由切換選擇 用戶主導模式或是全自動選項,此項功能在zui簡潔的操作中保證了測量的質量與精度。

          光學三維表面檢測的新標準
          根據usurf expert測定原理可以檢測粗糙度,幾何形狀,平整度,磨損度,軸承比率和進一步的參數可以按照標準例如ISO25178和ISO4287測定。觸覺計量學相比,三維測量的表面結構提供了定量的信息使人們有可能獲得更多的有意義的結果。與此同時,具有高焦深的顯微圖像生成*的文檔。

          超細粗糙結構的輪廓精確地再現代表了NanoFocus開發的核心質量標準共焦測量技術。這是應用程序的測試實驗室和質量控制測量設備的必要前提。

          自動化包括的幾個選項
          樣品自動測量與分析通過成千上萬編程系列測量,NanoFocus提供高性能存入數據庫軟件,它允許靈活的編程進行測量和評估策略。

          研究級共聚焦顯微系統應用實例 
          在測試和開發實驗室,一個范圍廣泛的材料,其獨立的表面性質,可以用usurf expert靈活的共聚焦3D顯微鏡測量。隨著自動測量和分析功能,共聚焦顯微鏡也適合于在眾多的測量任務過程中的質量保證。

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